Хайлт
Нарийвчилсан хайлт

Focus Ion Beam Scanning Electron Microscope For Inspection And Edx Analysis Of 200Mm Wafers - Pr468071 -2390 - W

Гэрээний шагнал

Ерєнхий мэдээлэл
   2024 оны 10 сарын 1 єдєр
   Герман
   Бусад
   нийтэлсэн: 2024 оны 10 сарын 1 єдєр

Жинхэнэ текст

TED 00590245-2024 - Result















Help Print Share





Share ×

Facebook X/Twitter LinkedIn Email

Cancel





.ted-toolbar {
display: flex;
}

.ted-mini-toolbar {
display: flex;
margin-bottom: 22px;
margin-left: auto;
}

.ted-help,
.ted-download,
.ted-print,
.ted-social-share {
background: none;
border: none;...
Хэрэглэгчийн бvртгэлийн тохиргоо

Суурь

Дүүрэн

Компаний

$550/жил

$1000/жил

єртєг хүсэлтэд

Худалдан авах Худалдан авах Холбоо барих

Contract award information
   TESCAN GmbH
Энэхvv анхааруулга нь зєвхєн мэдээллийн чанартай болохыг анхаарна уу.
Бид вэб сайтынхаа мэдээллийн vнэн зєв байдал, шинэчлэлтийг сайжруулахыг эрмэлзэж байгаа ч манай бvх мэдээлэл алдаагvй хэмээн баталж чадахгvй.
Танд энэ анхааруулгыг сайжруулах, єєрчлєхтэй холбоотой дурын санал байвал бидэнд ирvvлнэ vv.